JALOTO, Alexandre; PRIMI, Ricardo. Enem de próxima geração com menos itens e alta confiabilidade usando CAT. Estudos em Avaliação Educacional, São Paulo, v. 35, p. e10142, 2024. DOI: 10.18222/eae.v35.10142. Disponível em: https://publicacoesfcc.emnuvens.com.br/eae/article/view/10142. Acesso em: 12 set. 2026.